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研发测试及试验中心建设项目报告表全本公示
发布日期:2023-02-24

按照《建设项目环境影响评价信息公开机制方案》(环发[2015]162号)文件要求,现将研发测试及试验中心建设项目相关情况公示如下:

1.项目名称:研发测试及试验中心建设项目

2.建设地点:珠海市高新区金鼎工业片区金环路以北、金园二路西侧自建厂房(珠海高新技术产业开发区)

3.建设单位:珠海市威兆半导体有限公司

4.项目概况:

珠海市威兆半导体有限公司投资19654.94万元于珠海市高新区金鼎工业片区金环路以北、金园二路西侧自建厂房(珠海高新技术产业开发区)建设研发测试及试验中心建设项目(以下简称项目”),建设内容主要是集成电路芯片的设计及优化,通过不同类型实验设备测试验证芯片设计方案的可行性。年研发MOSFET、IGBT、SiCMOS三类芯片合计共10000颗。

 

报告表公示稿链接:链接:https://pan.baidu.com/s/13-XYnmwjI5z4A6FIIkCsKA

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